故障现象: 一:L/R DC GEN FAIL ,APU GEN FAIL 处理过程:做工作没有明确的目的性,清洁插头,GCU 、GEN、1VE,、HECS轮流换,直到故障排除为止。 故障分析:从大量的直流电机故障处理中可以总结出: 1、 GCU和GEN的可靠性是比较高的,更换GCU和GEN对于排除故障帮助不大,即使当时测试通过不久之后故障还会重现。 2、 HECS的可靠性似乎不高,但这并不是由HECS本身质量造成的,由于正极HECS集成在1VE里,而正负极HECS在比较电压相差0.5V时即给出故障信息,因此当1VE中的正极HECS产生偏差时,要么更换1VE,要么更换HECS直到两个HECS匹配为止,在这种情况下,换下的HECS应该是可用件。 3、 1VE的可靠性很差,故障重复出现的原因是附件翻修不能保证质量,而1VE又是最重要的部件,其中集成了正极HECS和很多的线路继电器,这些继电器在各种条件作用下经常产生误动作,而且性能也会发生改变,从翻修报告中可以看出很多1VE在测试中都无法实现设计功能,这些继电器又控制着直流电机和电瓶,因此直流电机失效和电瓶失效的故障都有可能是1VE引起的。 故障总结:很多情况下清洁插头,测试通过。在非基地航站过站这样处理是可行的,但在基地航站航后就不能简单测试了。事实上更换1VE是目前排除直流电机失效故障最有效的手段,其次是更换HECS,再次是更换GEN,最后才是更换GCU,清洁面板,紧固励磁线等。航后排故仍然建议首先考虑1VE。还有一种DC GEN在N2低转速时接不通的现象,这种情况是由于电机励磁电流要求高的缘故,应更换电机。 二:INV1/INV2 FAIL 处理过程:更换相应的INV,或者更换继电器,或者调节INV输出电压。 故障分析:INV实际就是逆变器,一般情况下继电器23XR和28XR出故障的可能性很小,更换继电器排除故障的比例非常低,建议首先同时更换两个INV。在INV输出电压过高时又没有新件可换时也可以按工卡调节INV的输出电压。 故障总结:有一种现象出现多次,更换故障的INV后另一个INV也故障,更换后故障又转移,因此建议有条件的话两个INV一起换。另外直流电机失效也可以引起INV失效,在直流电机故障排除后INV失效信息即可消除。 三: 其余电源故障可以参考《电源系统故障统计分析》——编号328-016,另外航后简单地清洁插头测试通过也是长时间以来造成电源系统故障反复出现的重要原因之一。 参考资料:AMM(D&O),AWM,《直流发电机系统间歇性故障分析》, 《电源系统故障统计分析》,《附件翻修报告》 |